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火花直讀光譜儀誤差分析及規(guī)避方法

瀏覽量:?? 來(lái)源:http://m.aslamnaa.com??作者:永暉進(jìn)口光譜儀維修公司

  火花直讀光譜儀雖然本身測(cè)量準(zhǔn)確度很高,但測(cè)定試樣中元素含量時(shí),所得結(jié)果與真實(shí)含量通常不一致,存在一定誤差,并且受諸多因素的影響。本文重點(diǎn)分析各種誤差產(chǎn)生的原因,并提出了消除各種誤差的相應(yīng)方法,闡述了火花直讀光譜儀使用時(shí)的注意事項(xiàng)。根據(jù)誤差的性質(zhì)及產(chǎn)生原因,誤差可分為系統(tǒng)誤差、偶然誤差、過(guò)失誤差及其他誤差等。


  偶然誤差的來(lái)源,與樣品成分不均勻有關(guān)的誤差。因?yàn)楣怆姽庾V分析所消耗的樣品很少,樣品中元素分布的不均勻性、組織結(jié)構(gòu)的不均勻性,導(dǎo)致不同部位的分析結(jié)果不同而產(chǎn)生。


  系統(tǒng)誤差的來(lái)源,標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí),可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變,從而引入誤差;標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí),激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差;澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí),測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別;未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí),混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差;要消除系統(tǒng)誤差,必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差,就需要采用化學(xué)分析方分析多次校對(duì)結(jié)果。


  其他因素誤差及如何避免,氬氣不純,當(dāng)氬氣中含有氧和水蒸氣時(shí),會(huì)使激發(fā)斑點(diǎn)變壞,如果氬氣管道與電極如果氬氣管道與電極架有污染物排不出,分析結(jié)果會(huì)變差。試樣表面要平整,當(dāng)試樣放在電極架上時(shí),不能有漏氣現(xiàn)象。 如有漏氣,激發(fā)時(shí)聲音不正常。樣品與控制標(biāo)樣的磨紋粗細(xì)要一致,不能有交叉紋,磨樣用力不要過(guò)大,而且用力要均勻,用力過(guò)大,容易造成試樣表面氧化。對(duì)高鎳鉻鋼磨樣時(shí),要使用新砂輪片磨樣,磨紋操作要求更嚴(yán)格。試樣不能有偏析、裂紋、氣孔等缺陷,試樣要有一定的代表性。電極的頂尖應(yīng)具有一定角度,使光軸不偏離中心,放電間隙應(yīng)保持不變,否則聚焦在分光儀的譜線強(qiáng)度會(huì)改變。多次重復(fù)放電以后,電極會(huì)長(zhǎng)尖,改變了放電間隙。激發(fā)產(chǎn)生的金屬蒸氣也會(huì)污染電極。所以必須激發(fā)一次后就用刷子清理電極。透鏡內(nèi)表面常常受到來(lái)自真空泵油蒸氣的污染,外表面受到分析時(shí)產(chǎn)生金屬蒸氣的附著,使透過(guò)率明顯降低,對(duì)波長(zhǎng)小于200nm的碳、硫、磷譜線的透過(guò)率影響更顯著,所以聚光鏡要進(jìn)行定期清理。真空度不夠高會(huì)降低分析靈敏度,特別是波長(zhǎng)小于200nm的元素更明顯, 為此要求真空度達(dá)到0. 05mmHg。出射狹縫的位置變化受溫度的影響最大,因此保持分光室內(nèi)恒溫30℃很重要,還要求室內(nèi)溫度保持一致,使出射狹縫不偏離正常。室內(nèi)溫度的升高會(huì)增加光電倍增管的暗電流,降低信噪比。濕度大容易導(dǎo)致高壓元件發(fā)生漏電、放電,使分析結(jié)果不穩(wěn)定。


  以上火花直讀光譜儀的測(cè)量誤差進(jìn)行了分析,指出了影響分析結(jié)果準(zhǔn)確性的原因及誤差的性質(zhì)和來(lái)源,希望企業(yè)能更好地了解,進(jìn)而推廣使用火花直讀光譜儀。


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