有些二手紅外光譜儀器的使用說(shuō)明書(shū)會(huì)給出光譜儀的常見(jiàn)故障及排查方法，有些光譜儀器還有自診斷功能，當(dāng)傅里葉紅外光譜儀不能正常工作時(shí)，可先啟動(dòng)儀器自診斷功能，檢查儀器某些器件工作狀況，或者根據(jù)儀器的異，F(xiàn)象，參照儀器使用說(shuō)明書(shū)進(jìn)行排查。若發(fā)現(xiàn)是二手紅外光譜儀硬件損壞，應(yīng)請(qǐng)專業(yè)維修工程師來(lái)現(xiàn)場(chǎng)處理，若無(wú)法查出故障原因，也應(yīng)及早與維修工程師溝通，及時(shí)傳遞儀器的故障信息，以便工程師來(lái)現(xiàn)場(chǎng)維修之前能大概判定故障原因并準(zhǔn)備好所需的備品備件。如果故障原因不是硬件問(wèn)題，可通過(guò)調(diào)整、重新設(shè)置光譜儀參數(shù)等技術(shù)操作解決的，可自行處理。下面為紅外光譜儀常見(jiàn)故障及排査方法。
一、干涉圖能量低，導(dǎo)致信噪比不理想。
可能原因:
1、分束器損壞。
2、圓光路中有衰減器。
3、紅外光源已損壞或能量已衰竭。
4、光闌孔徑太小或信號(hào)增益倍數(shù)太小。
5、檢測(cè)器已損壞或MCT檢測(cè)器無(wú)液氮。
6、各種紅外反射鏡或紅外附件的鏡面太臟。
7、光路準(zhǔn)直未調(diào)節(jié)好或非智能紅外附件位置未調(diào)整到正確位置。
排除方法:
1、啟動(dòng)光路自動(dòng)準(zhǔn)直程序，如果正在使用非智能紅外附件，則還需要人工準(zhǔn)直。
2、更換紅外光源。
3、請(qǐng)維修工程師檢查，必要時(shí)更換檢測(cè)器(檢測(cè)器損壞很有可能是由于受潮引起，因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥，對(duì)于MCT檢測(cè)器可添加液氮再重新檢查。
4、請(qǐng)維修工程師檢查，必要時(shí)更換分束器(分束器損壞很可能是由于受潮引起或更換時(shí)碰撞產(chǎn)生裂痕引起，因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥，從儀器上取出或裝入時(shí)一定要非常小心)。
5、請(qǐng)維修工程師清洗。
6、重新設(shè)置光闌孔徑或信號(hào)增益倍數(shù)，使之處于適當(dāng)值。
7、取下光路中的衰減器。
二、光學(xué)臺(tái)未能工作，不能產(chǎn)生干涉圖。
可能原因:
1、控制電路板損壞。
2、操作軟件有問(wèn)題。
3、檢測(cè)器已完全損壞。
4、光譜儀輸出電壓不正常。
5、分束器未固定好或已損壞。
6、計(jì)算機(jī)與光學(xué)臺(tái)未能連接。
7、光譜儀室溫度過(guò)高或過(guò)低。
8、He-Ne激光器不工作或能量已較大衰減。
排除方法:
1、重新固定分束器，如分束器已損壞，請(qǐng)維修工程師檢查，必要時(shí)更換分束器(分束器損壞很有可能是由于受潮引起或更換時(shí)碰撞產(chǎn)生裂痕引起，應(yīng)注意保持儀器室的干燥，從儀器上取出或裝入時(shí)一定要非常小心)。
2、檢查計(jì)算機(jī)與光學(xué)臺(tái)連接口，鎖緊接口，重新啟動(dòng)光學(xué)臺(tái)和計(jì)算。
3、與維修工程師聯(lián)系，或請(qǐng)維修工程師檢査，必要時(shí)更換控制電路板(更換后，要再次檢査穩(wěn)壓電源工作效率和儀器室電源有無(wú)問(wèn)題)。
4、檢査光譜儀面板上指示燈，有自診斷程序可啟動(dòng)診斷，檢查輸出電源是否正常，排查故障原因，并與維修工程師聯(lián)系處理方法。
5、重新安裝操作軟件。
6、過(guò)空調(diào)調(diào)控室溫。
7、更換檢測(cè)器。
8、檢查He-Ne激光器工作是否正常，及時(shí)請(qǐng)維修工程師維修。
三、干涉圖能量過(guò)高，導(dǎo)致溢出。
可能原因:
1、動(dòng)鏡移動(dòng)速度太慢。
2、光闌孔徑太大或信號(hào)増益倍數(shù)太高。
排除方法:
1、重新設(shè)置動(dòng)鏡移動(dòng)速度。
2、重新設(shè)置光闌孔徑或信號(hào)增益倍數(shù)，使之處于適當(dāng)值。
四、干涉圖不穩(wěn)定。
可能原因:
1、控制電路板損傷或疲勞。
2、測(cè)量遠(yuǎn)紅外區(qū)時(shí)樣品室氣流不穩(wěn)定。
3、所使用的MCT檢測(cè)器真空度降低或窗口有冷凝水。
排除方法:
1、請(qǐng)維修工程師檢查維修:
2、對(duì)MCT檢測(cè)器重新抽真空。
3、待樣品室氣流穩(wěn)定后再測(cè)試。
